Seminario "CERRAJERÍA FORENSE VS SEGURIDAD Y TECNOLOGÍA" (25 de noviembre de 2025)

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Seminario "CERRAJERÍA FORENSE VS SEGURIDAD Y TECNOLOGÍA" (25 de noviembre de 2025)

La jornada se impartirá en modalidad presencial en la Escuela Politécnica Superior de la Universidad de Alcalá de Henares (25 de noviembre de 2025).

PROGRAMA

08:30  Recogida de documentación.

08:45  Presentación del Seminario. Introducción.
          D. José Luis Ferrando Gil. Comandante Jefe del Departamento de Balística y Trazas Instrumentales (SECRIM).

09:00  Casuística en el SECRIM sobre estudios relacionados con forzamientos.
          D. Antonio Martínez Abad. Suboficial Mayor Director Técnico del Área de Trazas Instrumentales (SECRIM).

09:50  Tipologías básicas de ataques y estudios en cerrajería forense.
          D. José Luis Moreno Corvera. Inspector Jefe de Grupo de Trazas Instrumentales. (CGPC).

10:40  La amenaza de la impresión 3D en la cerrajería forense: Implicaciones en la recogida de indicios en la escena del crimen.
          D. José Antonio Loya Lorenzo. Catedrático del Departamento de Mecánica de Medios Continuos y Teoría de Estructuras, Director de Grado en Gestión de la Seguridad Pública. (Universidad Carlos III).

11:30  DESCANSO / Café

12:00  Posicionamiento óptimo de sensores de seguridad mediante algoritmos evolutivos.
          D. Sancho Salcedo Sanz. Catedrático del Departamento de Teoría de la Señal y Comunicaciones.(UAH)

12:50   Perspectiva judicial en los delitos de robo con fuerza.
          D. Juan Javier Pérez Pérez.
 Magistrado-Juez.Titular del Juzgado de Instrucción nº 11 de Madrid.

13:40  Métodos de ataque e identificación de apertura de cajas fuertes.
          D. Pablo Mediavilla Lasanta. Cerrajero Experto Profesional. Propietario de la Empresa Mediavilla Cerrajeros de Logroño

14:30   DESCANSO / Comida

16:15  Aperturas por manipulación de las diferentes técnicas de impresión.
          D. Iñaki Vicente Sáez. 
Cerrajero Experto Profesional. Formador de Cursos de Cerrajería Avanzada.

17:05  El formato X3P: nuevo recurso en el examen de marcas de herramientas.
          D. Manuel Jesús Ruano Rando.
Cabo 1º Especialista y Director Técnico del Dpto. de Balística y Trazas (SECRIM)

18:00   Conclusiones y debate

18:30   Clausura del Seminario